SPICE modeling of ionizing radiation effecs in CMOS devices

Наслов

SPICE modeling of ionizing radiation effecs in CMOS devices

Идентификатор

/unibl/sci/idNaucniRad:20375

Тип

Датум

Библиографски цитат

T. Pešić-Brđanin, SPICE modeling of ionizing radiation effecs in CMOS devices, FACTA UNIVERSITATIS - SERIES: ELECTRONICS AND ENERGETICS, Vol. 30, No. 2, pp. 161 - 178, Jun, 2017

Почетна страница

161

Крајња страница

178

Је дио

FACTA UNIVERSITATIS - SERIES: ELECTRONICS AND ENERGETICS

Веза

Листа аутора

Position: 48859 (36 views)