SPICE modeling of ionizing radiation effecs in CMOS devices

Naslov

SPICE modeling of ionizing radiation effecs in CMOS devices

Identifikator

/unibl/sci/idNaucniRad:20375

Tip

Pronađite slične unoseAcademic Article
Pronađite slične unosetext

Datum

Pronađite slične unose2017-06

Bibliografski citat

T. Pešić-Brđanin, SPICE modeling of ionizing radiation effecs in CMOS devices, FACTA UNIVERSITATIS - SERIES: ELECTRONICS AND ENERGETICS, Vol. 30, No. 2, pp. 161 - 178, Jun, 2017

Početna stranica

161

Krajnja stranica

178

Je dio

FACTA UNIVERSITATIS - SERIES: ELECTRONICS AND ENERGETICS
0353-3670

Veza

Pronađite slične unoseElektrotehnički fakultet

Lista autora

Pronađite slične unoseTatjana Pešić-Brđanin

Position: 44840 (37 views)