SPICE modeling of oxide and interface trapped charge effects in fully-depleted double-gate FinFETs
Наслов
SPICE modeling of oxide and interface trapped charge effects in fully-depleted double-gate FinFETs
Идентификатор
/unibl/sci/idNaucniRad:20376
Тип
Пронађите сличне уносеAcademic Article
Датум
Пронађите сличне уносе2015-06
Библиографски цитат
N. Janković, T. Pešić-Brđanin, SPICE modeling of oxide and interface trapped charge effects in fully-depleted double-gate FinFETs, Journal of Computational Electronics, Vol. 14, No. 3, pp. 844 - 851, Jun, 2015
Почетна страница
844
Крајња страница
851
Је дио
Пронађите сличне уносеJournal of Computational Electronics
Пронађите сличне уносе1569-8025
Position: 29334 (30 views)